رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید ایندیوم (in2o3)

thesis
  • وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک
  • author خدیجه شمس الدینی
  • adviser حسین عشقی
  • Number of pages: First 15 pages
  • publication year 1391
abstract

در این تحقیق تجربی به بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه های اکسید ایندیوم خالص که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند پرداخته ایم. در این مطالعه برای مشخصه یابی نمونه های رشد یافته از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv-vis-nir، فوتولومینسانس (pl) و مشخصه جریان-ولتاژ (i-v) استفاده کرده ایم. در طی این تحقیق به منظور ساخت نمونه ها از کلرید ایندیوم (با خلوص 99/99 درصد) در تهیه محلول اسپری استفاده کرده ایم. پارامترهای متغیر در این مطالعه عبارتند از: دمای زیرلایه (350 تا 450 درجه سلسیوس) و بازپخت، آهنگ لایه نشانی (7/1، 3/3 و 8/4 میلی لیتر بر دقیقه) و بازپخت، نوع زیرلایه (شیشه، سیلیکون و fto) و سرانجام شیوه اسپری (پالسی و پیوسته). تصاویر fesem نمونه ها همواره موید شکل گیری نانو ساختارهای گوناگون در لایه بوده و طیف xrd آنها نشان دهنده ساختار های بس بلوری در تمامی لایه ها قبل و بعد از بازپخت است. همچنین طیف عبور نمونه ها بیانگر عبور بالا (> 70%) در ناحیه مرئی با گاف نواری مستقیم اپتیکی در حدود 9/3 الکترون ولت می باشد. طیف فوتولومینسانس (pl) نمونه ها در دمای اتاق مبتنی بر وجود دو قله یکی در ناحیه فرابنفش (متناظر با بازترکیب نوار به نوار) و دیگری در ناحیه مرئی (وابسته به ترازهای ناکاملی های بلوری به ویژه تهی جاهای اکسیژن) می باشد. خواص الکتریکی اندازه گیری شده لایه ها حاکی از مقادیر بالای مقاومت الکتریکی (در حدود مگا اهم) در نمونه هاست به طوری که در معرض تابش نور فرابنفش کاهش قابل ملاحظه ای ملاحظه می شود.

First 15 pages

Signup for downloading 15 first pages

Already have an account?login

similar resources

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید نیکل

ما در این تحقیق تجربی به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه-های اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با در صدهای مختلف مس بر روی زیرلایه شیشه که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند، پرداخته ایم. آنگاه برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه-های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv.vis، فوتولومینسانس (pl) و اثر هال استفاده کرده ایم. پارامت...

15 صفحه اول

تحلیل فرکتالی ویژگی‌های سطح لایه‌های نازک اکسید ایندیوم قلع

 In this study, indium-tin-oxide thin films in different thickness ranges were prepared by electron beam evaporation method on the glass substrate at room temperature. The thicknesses of films were 100, 150 and 250nm. Using fractal analysis, morphological characteristics of surface films thickness in amorphous state were investigated. The results showed that by increasing thickness, surface rou...

full text

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک cualo2

چکیده در این پایان نامه لایه های نازک اکسید مس آلومینیوم (cualo2) با ضخامت متوسط nm150به روش سل ـ ژل چرخشی و غوطه وری آماده شدند. به منظور بدست آوردن شرایط بهینه سنتز این نمونه ها، اثر پارامتر هایی نظیرنوع زیرلایه، دمای خشک سازی و دمای بازپخت، اتمسفر محیط بازپخت و نسبت مولی آلومینیوم به مس روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها بررسی شد. نتایج این مطالعه نشان داد که برای تبلور ساختار بلوری cualo2،...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک cd1-xcoxs

لایه های نازک سولفید کامیوم (cds) کاربردهای فراوانی از جمله در سلولهای خورشیدی دارند. در این پایان نامه به لایه نشانی لایه های نازک سولفید کامیوم پرداخته و سعی نمودیم با آلایش عنصر واسطه کبالت خواص فیزیکی آنها را مورد مطالعه قرار دهیم. کار تجربی ما در این پایان نامه شامل سه مرحله است : ابتدا لایه های نازک سولفید کادمیوم به ضخامت حدود 5/1 میکرومتر بر روی زیرلایه شیشه و در دمای محیط به روش تبخی...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک سلنیدروی (znse)

در این کار ابتدا لایه های نازک سلنیدروی (znse) به روش تجزیه گرمایی افشانه ای روی زیرلایه های شیشه ای رشد داده شدند. سپس اثر پارامترهای مختلف رشد نظیر دمای لایه نشانی، آهنگِ شارش محلول، نسبت وزن مولی سلنیوم دی اکساید به کلریدروی، میزان حجم محلول اسپری، دمای بازپخت و همچنین مدت زمان آن بر روی ساختار بلوری و خواص اپتیکی لایه های تهیه شده بررسی شد. بررسی طیف xrd و همچنین تصاویر sem ثبت شده برای نمو...

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک سولفید روی

در این پایان نامه خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک سولفید روی رشد داده شده با استفاده از روش سل - ژل چرخشی و غوطه وری بر روی زیرلایه هایی از جنس شیشه و کوارتز مورد بررسی قرار گرفت. طیف های xrd ثبت شده از سطح نمونه ها و نیز تصاویر sem نمونه ها نشان داد که تغییر روش انباشت تأثیری بر بلورینگی لایه ها نداشته است و نمونه های رشد داده شده به روش سل - ژل چرخشی نسبت به نمونه های رشد داده شده به روش ...

15 صفحه اول

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


document type: thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023